當(dāng)氣密性檢漏儀測(cè)試完成后，排出產(chǎn)品內(nèi)部的氣體將產(chǎn)品和密封工裝上的部分溫度帶走。

若立即用氣密性檢漏儀對(duì)同一產(chǎn)品進(jìn)行二次試驗(yàn)，會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部氣體溫度先降后穩(wěn)壓后回復(fù)升高的狀態(tài)，這會(huì)導(dǎo)致在測(cè)試階段內(nèi)腔內(nèi)壓力有微小上升的狀態(tài)，將抵消部分原有的泄漏量。

在對(duì)同一產(chǎn)品進(jìn)行重復(fù)測(cè)試時(shí)，兩個(gè)測(cè)試之間需要有足夠的時(shí)間間隔，以使產(chǎn)品回復(fù)到正常測(cè)試狀態(tài)，每一個(gè)測(cè)試間隔時(shí)間是一致的。當(dāng)使用氣密性檢漏儀進(jìn)行重復(fù)測(cè)試時(shí)，可以選擇多個(gè)產(chǎn)品循環(huán)測(cè)試的方式。

在真空環(huán)境中，不受溫度變化的影響？試驗(yàn)誤差隨試驗(yàn)壓力的加大而加大。試驗(yàn)壓力越接近真空，誤差越小。

如果實(shí)際溫度是穩(wěn)定的，則不同的溫度環(huán)境對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響不大，例如溫度環(huán)境差5℃之間的差異大約在5/(273+20)=1.7%。而且如果在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生溫度變化，對(duì)測(cè)試結(jié)果有很大的影響！

氣體分子在充氣過(guò)程中摩擦產(chǎn)生熱量，根據(jù)氣體方程式PV=NRT，可知會(huì)使試驗(yàn)腔內(nèi)壓力升高，當(dāng)充氣結(jié)束時(shí)溫度又會(huì)慢慢恢復(fù)到正常的室溫，所以充氣結(jié)束后的穩(wěn)定壓時(shí)間如果不夠充分，即到測(cè)試階段腔體內(nèi)部溫度仍處于下降的回復(fù)期，則由此導(dǎo)致的壓力下降將直接反映到氣密性檢漏儀所測(cè)試的泄漏量中。

具有較高溫度的工件在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，會(huì)對(duì)充氣進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的加熱，在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)品內(nèi)部的氣壓不會(huì)下降反升，測(cè)試結(jié)果為負(fù)值。

如果是直接在低溫環(huán)境下進(jìn)行高溫環(huán)境試驗(yàn)的產(chǎn)品，氣密性檢漏儀因溫度和測(cè)試時(shí)間的不同，可能會(huì)出現(xiàn)泄漏量變大的情況，也可能出現(xiàn)不同的測(cè)試負(fù)值現(xiàn)象。

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